產品簡介：

XRF熒光光譜分析儀非常堅固耐用，可以在極為惡劣的環境中完成分析要求高的應用。可以用來對各種不同類型的礦石進行現場分析。通過現場測試的成熟的X射線管分析系統，無輻射性同位素，現場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究，對樣品要求低，但是測試結果準確，能準確分析高濃度樣品，避免了驗證性的實驗室測試。XRF熒光光譜分析儀可對各種礦石進行多元素分析，廣泛應用于礦業、地質、土壤環境、底泥、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測定，還應用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦、銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、錳礦、釩礦、碘礦、硫礦、鉀礦、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實心體、碎片、過濾物質、薄膜層等有形物體。

地礦行業應用優勢

1、檢測元素：標準配置可檢測30多種元素，同時可按客戶需求增加檢測元素

2、專業性：礦石專用版分析軟件，采用智能一鍵測試

3、個性化定制工作模式：多種礦樣模式選擇和無限數目模式的自由添加，根據客戶需求定制工作模式。

4、充分挖掘礦山價值：高清攝像頭，可對被檢測的礦脈或礦點部位進行更直觀的觀察，并對開采過程進行精確管理和控制，隨時檢測礦石品位。

5、對選礦過程中原礦、精礦和尾礦等進行精確快速分析，為礦石品位的測定、礦物貿易、加工以及再利用提供價值判定依據。

6、環境監控：對開采礦山周圍土壤中的重金屬進行監測和檢測，評估礦山環境的修復情況，最大限度的監測好礦山周邊的環境。

技術參數：

1、檢測元素：可用于礦石、土壤環境中金屬元素，Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。

2、探測器：美國Moxtek Si-pin（6 mm2）、美國Amptek Si-pin（25 mm2）、德國KETEK SDD探測器 ；

3、激發源：大功率微型直板X射線管，W靶材，4W大功率X射線管，管電壓50KV，管電流最大可達100μA；

4、采用KMX技術，更高X射線計數率，超低電子噪聲設計。每次測試前，不需要外部標樣，自動能量校準核查；

5、濾光片：配置8個濾光片，可根據測試元素自動切換；

6、測試方法：基本參數法，支持經驗系數法修正；

7、點觸或扣動扳機控制測試開始，測試過程無需長扣扳機。根據客戶需求，也可以一直按著扳機測試樣品。